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        產(chǎn)品展示 / products 您的位置:網(wǎng)站首頁(yè) > 產(chǎn)品展示 > 環(huán)境測(cè)試 > 粒徑譜儀
        • SMPS掃描電遷移率粒徑譜儀
          SMPS掃描電遷移率粒徑譜儀

          德國(guó)Palas SMPS掃描電遷移率粒徑譜儀(U-SMPS)有兩個(gè)版本。長(zhǎng)分類柱(2050/2100型)能夠可靠地確定8至1,200 nm的粒徑分布。 Palas®U-SMPS系統(tǒng)包括一個(gè)分類器[在ISO 15900中定義為差分電遷移率分類器(DMA),也稱為差分遷移率分析器(DEMC)],根據(jù)氣溶膠顆粒的電遷移率選擇并傳遞給出口。

          更新時(shí)間:2024-09-10型號(hào):瀏覽量:1552
        • DEMC德國(guó)PALAS 納米顆粒粒徑譜儀
          DEMC德國(guó)PALAS 納米顆粒粒徑譜儀

          德國(guó)PALAS 納米顆粒粒徑譜儀 實(shí)現(xiàn)經(jīng)濟(jì)、便攜、實(shí)時(shí)的測(cè)量3 nm-1.2 um大小的粒子 。用于氣溶膠研究、環(huán)境和氣候研究等。

          更新時(shí)間:2024-09-09型號(hào):DEMC瀏覽量:2470
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